一、B-H分析儀常見測量參數(shù)及范圍如下：

（1）可通過B-H分析儀測量的磁通密度范圍是多少？

         在正弦波勵磁的非飽和區(qū)域，B-H曲線的MAX磁通密度Bm和感應電壓V2的關系如以下公式所示。

         f：測量頻率　Ae：試樣的有效截面積　N2：2次繞組匝數(shù)：

        因此，可在非飽和區(qū)域所用B-H分析儀檢測電壓范圍內的V2相應的Bm范圍執(zhí)行測量。SY-8218、SY-8219上的V2 MAX允許值為200V。此公式在非正弦波勵磁、或飽和區(qū)域不成立，需注意。

（2）可通過B-H分析儀勵磁的磁場(的強度)是多少？

        可勵磁的MAX磁場Hm通過以下公式?jīng)Q定。

        I：勵磁電流　N1：1次繞組匝數(shù)　Le：平均磁路長：

        勵磁電流依賴于所用功率放大器。

（3）可通過B-H分析儀測量的頻率是多少？

        根據(jù)與B-H分析儀機型組合的選配件而異。各B-H分析儀單體機型的測量頻率如下表所示。組合選配件的測量頻率請查看各選配件的說明。

       B-H分析儀從性能方面而言可執(zhí)行上述頻率范圍的測量，但上限頻率方面需注意試樣的電感L。
       B-H分析儀的輸入電容C與試樣的電感L構成LC并聯(lián)諧振電路，所以使用時需要使測量頻率在諧振頻率的1/10以下。請在選定機型時一并考慮上述事宜。此外，諧振頻率fc可通過以下公式進行計算。
L：試樣的電感　C：測量裝置的輸入電容（SY-8218 / SY-8219約為18.5pF） N1：1次繞組匝數(shù)　N2：2次繞組匝數(shù)   

      此外，如果是高相位角(≧約87°)的試樣，其諧振影響將會變大，測量高相位角的試樣時，建議以諧振頻率1/20以下的頻率執(zhí)行測量。

二、可通過B-H分析儀進行直流疊加測量嗎？

將B-H分析儀SY-8218 / SY-8219與選配件的DC偏壓測試儀SY-960(SY-961,SY-962)相互組合即可執(zhí)行測量。無需對試樣進行直流勵磁專用的3次繞組，所以測量起來遠比傳統(tǒng)產品簡單。

三、可通過B-H分析儀進行脈沖勵磁測量嗎？

將B-H分析儀SY-8218 / SY-8219限定為Duty50%，但可在10Hz～1MHz的標準范圍內執(zhí)行測量。與選配件的DC偏壓測試儀SY-960(SY-961,SY-962)相互組合，即可以可調整的Duty10～90%、并在10kHz～1MHz范圍內執(zhí)行測量。

四、可通過B-H分析儀進行飽和磁通密度測量嗎？

如果與飽和磁通密度相應的磁場(的強度)和感應電壓在BH分析儀的測量范圍則可執(zhí)行測量

五、可通過B-H分析儀進行磁導率測量嗎？

B-H分析儀SY-8218 / SY-8219上可測量振幅比磁導率和復數(shù)磁導率。使用光標測量功能，也可在B-H曲線的任意點上測量振幅比磁導率。

六、可通過B-H分析儀進行溫度特性測量嗎？

B-H分析儀與選配件的恒溫箱掃描系統(tǒng)組合后即可測量。恒溫箱掃描系統(tǒng)的主要規(guī)格如下表所示。

此外，與恒溫箱掃描系統(tǒng)組合時，測量頻率的上限為5MHz。組合的B-H分析儀、或所用功率放大器的測量頻率上限低于此數(shù)

值時，以該些數(shù)值為測量頻率上限。

【參照】恒溫箱掃描系統(tǒng)    

使用恒溫箱掃描系統(tǒng)SY-320A/321A進行測量時需要注意哪些方面？ 

（1）測量壓粉等低磁導率、低鐵損的試樣時，建議使試樣與放置試樣的附件轉臺SY-510/511 保持15mm以上的距離。SY-510/511的基材為鋁制。試樣產生漏磁通、且鎖交于SY-510/511時，將會在該位置產生渦流損耗，從而導致鐵損測量誤差而無法正確測量。
（2）試樣為導體時，建議試樣之間也要保持15mm以上的距離。同樣，試樣一旦產生漏磁通、且鎖交于鄰接的試樣，則會產生渦流損耗，從而無法正確測量。  

七、可通過B-H分析儀進行磁力特性的時間變化測量嗎？

在B-H分析儀上追加選配件軟件SY-811連續(xù)測量功能即可測量。使試樣維持勵磁后的狀態(tài)，以1min間隔執(zhí)行測量，可測量MAX 99,999min(約70天)的磁力特性時間變化。

八、可通過B-H分析儀自動進行程序測量嗎？

將選配件的遠程控制軟件SY-810安裝于所持PC后，與B-H分析儀單體、或恒溫箱掃描系統(tǒng)等選配件設備組合，由此即可自動執(zhí)行程序測量。SY-810的主要規(guī)格請查看以下內容。此外，因遠程控制專用通信命令并未公開，所以用戶無法自行編程、并對B-H分析儀進行遠程控制測量。